TY - PAT CY - Patent A1 - Bäuerle, Tim A1 - Lorenz, Günter A1 - Mannhardt, Joachim A1 - Ostertag, Edwin A1 - Rebner, Karsten T1 - Vorrichtung und Verfahren zur Analyse eines Materialstroms N2 - Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung und Verfahren zur Analyse eines Materialstroms (S) mit einem Einlassbereich (E), einem Messbereich (M) und einen Auslassbereich (A) sowie mit einer ersten Weiche (W1) und einer zweiten Weiche (W2) und einem Umlenkbereich (U), wobei die beiden Weichen (W1, W2) in einem ersten Schaltzustand (Z1) einen durchgängigen ersten Materialdurchströmungsraum vom Einlassbereich (E) über die erste Weiche (W1) durch den Messbereich (M) über die zweite Weiche (W2) bis zum Auslassbereich (A) ausbilden und in einem zweiten Schaltzustand einen durchgängigen zweiten Materialdurchströmungsraum vom Einlassbereich (E) über die erste Weiche (W1) durch den Umlenkbereich (U) über die zweite Weiche (W2) bis zum Auslassbereich (A) ausbilden. UR - https://depatisnet.dpma.de/DepatisNet/depatisnet?action=bibdat&docid=EP000003282245A1 SP - 24 S1 - 24 ER -