TY  - CHAP
U1  - Konferenzveröffentlichung
A1  - Unger, Christian
A1  - Pfost, Martin
ED  - Kamerewerd, Franz Josef
T1  - Elektro-thermische Untersuchung des sicheren Arbeitsbereichs von SiC-MOSFETs
T2  - 44. Kolloquium Halbleiter-Leistungsbauelemente und ihre systemtechnische Anwendung
Y1  - 2015
SP  - 1
EP  - 17
S1  - 17
ER  -