TY  - CHAP
U1  - Konferenzveröffentlichung
A1  - Pham, Gimi
A1  - Pfost, Martin
ED  - Kamerewerd, Franz Josef
T1  - Modellierung der mechanischen Belastung der Metallisierung von Leistungshalbleitern
T2  - 43. Kolloquium Halbleiter-Leistungsbauelemente und ihre systemtechnische Anwendung
Y1  - 2014
SP  - 1
EP  - 17
S1  - 17
ER  -