TY - CPAPER U1 - Konferenzveröffentlichung A1 - Unger, Christian A1 - Pfost, Martin ED - Kamerewerd, Franz Josef T1 - Elektro-thermische Untersuchung des sicheren Arbeitsbereichs von SiC-MOSFETs T2 - 44. Kolloquium Halbleiter-Leistungsbauelemente und ihre systemtechnische Anwendung Y1 - 2015 SP - 1 EP - 17 S1 - 17 ER -