TY  - PAT
CY  - Patent
A1  - Bäuerle, Tim
A1  - Lorenz, Günter
A1  - Mannhardt, Joachim
A1  - Ostertag, Edwin
A1  - Rebner, Karsten
T1  - Vorrichtung und Verfahren zur Analyse eines Materialstroms
N2  - Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung und Verfahren zur Analyse eines Materialstroms (S) mit einem Einlassbereich (E), einem Messbereich (M) und einen Auslassbereich (A) sowie mit einer ersten Weiche (W1) und einer zweiten Weiche (W2) und einem Umlenkbereich (U), wobei die beiden Weichen (W1, W2) in einem ersten Schaltzustand (Z1) einen durchgängigen ersten Materialdurchströmungsraum vom Einlassbereich (E) über die erste Weiche (W1) durch den Messbereich (M) über die zweite Weiche (W2) bis zum Auslassbereich (A) ausbilden und in einem zweiten Schaltzustand einen durchgängigen zweiten Materialdurchströmungsraum vom Einlassbereich (E) über die erste Weiche (W1) durch den Umlenkbereich (U) über die zweite Weiche (W2) bis zum Auslassbereich (A) ausbilden.
UR  - https://depatisnet.dpma.de/DepatisNet/depatisnet?action=bibdat&docid=EP000003282245A1
SP  - 24
S1  - 24
ER  - 
TY  - PAT
CY  - Patent
A1  - Bäuerle, Tim
A1  - Lorenz, Günter
A1  - Mannhardt, Joachim
A1  - Ostertag, Edwin
A1  - Rebner, Karsten
T1  - Vorrichtung und Verfahren zur Analyse eines Materialstroms
N2  - Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung und Verfahren zur Analyse eines Materialstroms S mit einem Einlassbereich E, einem Messbereich M und einen Auslassbereich A sowie mit einer ersten Weiche W1 und einer zweiten Weiche W2 und einem Umlenkbereich U, wobei die beiden Weichen W1, W2 in einem ersten Schaltzustand Z1 einen durchgängigen ersten Materialdurchströmungsraum vom Einlassbereich E über die erste Weiche W1 durch den Messbereich M über die zweite Weiche W2 bis zum Auslassbereich A ausbilden und in einem zweiten Schaltzustand einen durchgängigen zweiten Materialdurchströmungsraum vom Einlassbereich E über die erste Weiche W1 durch den Umkenkbereich U über die zweite Weiche W2 bis zum Auslassbereich A ausbilden.
UR  - https://depatisnet.dpma.de/DepatisNet/depatisnet?action=bibdat&docid=DE102016009650A1
SP  - 20
S1  - 20
ER  - 
TY  - PAT
CY  - Patent
A1  - Bäuerle, Tim
A1  - Lorenz, Günter
A1  - Mannhardt, Joachim
A1  - Ostertag, Edwin
A1  - Rebner, Karsten
T1  - Apparatus and method for analyzing a flow of material
N2  - An apparatus and method for analyzing a flow of material having an inlet region, a measurement range and an outlet region, and having a first diverter and a second diverter, and a deflection area, wherein in a first state of operation, the two diverters form a continuous first material flow space from the inlet region via the first diverter through the measurement range, via the second diverter to the outlet region, and in a second state of operation, form a continuous second material flow space from the inlet region via the first diverter through the deflection area, via the second diverter to the outlet region.
UR  - https://depatisnet.dpma.de/DepatisNet/depatisnet?action=bibdat&docid=US020180038790A1
SP  - 19
S1  - 19
ER  -