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Elektro-thermische Untersuchung des sicheren Arbeitsbereichs von SiC-MOSFETs

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Metadaten
Author of HS ReutlingenUnger, Christian; Pfost, Martin
Erschienen in:44. Kolloquium Halbleiter-Leistungsbauelemente und ihre systemtechnische Anwendung
Editor:Franz Josef Kamerewerd
Document Type:Conference proceeding
Language:German
Publication year:2015
Page Number:17
First Page:1
Last Page:17
DDC classes:621 Angewandte Physik
Open access?:Nein