660 Technische Chemie
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Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung und Verfahren zur Analyse eines Materialstroms (S) mit einem Einlassbereich (E), einem Messbereich (M) und einen Auslassbereich (A) sowie mit einer ersten Weiche (W1) und einer zweiten Weiche (W2) und einem Umlenkbereich (U), wobei die beiden Weichen (W1, W2) in einem ersten Schaltzustand (Z1) einen durchgängigen ersten Materialdurchströmungsraum vom Einlassbereich (E) über die erste Weiche (W1) durch den Messbereich (M) über die zweite Weiche (W2) bis zum Auslassbereich (A) ausbilden und in einem zweiten Schaltzustand einen durchgängigen zweiten Materialdurchströmungsraum vom Einlassbereich (E) über die erste Weiche (W1) durch den Umlenkbereich (U) über die zweite Weiche (W2) bis zum Auslassbereich (A) ausbilden.
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung und Verfahren zur Analyse eines Materialstroms S mit einem Einlassbereich E, einem Messbereich M und einen Auslassbereich A sowie mit einer ersten Weiche W1 und einer zweiten Weiche W2 und einem Umlenkbereich U, wobei die beiden Weichen W1, W2 in einem ersten Schaltzustand Z1 einen durchgängigen ersten Materialdurchströmungsraum vom Einlassbereich E über die erste Weiche W1 durch den Messbereich M über die zweite Weiche W2 bis zum Auslassbereich A ausbilden und in einem zweiten Schaltzustand einen durchgängigen zweiten Materialdurchströmungsraum vom Einlassbereich E über die erste Weiche W1 durch den Umkenkbereich U über die zweite Weiche W2 bis zum Auslassbereich A ausbilden.
An apparatus and method for analyzing a flow of material having an inlet region, a measurement range and an outlet region, and having a first diverter and a second diverter, and a deflection area, wherein in a first state of operation, the two diverters form a continuous first material flow space from the inlet region via the first diverter through the measurement range, via the second diverter to the outlet region, and in a second state of operation, form a continuous second material flow space from the inlet region via the first diverter through the deflection area, via the second diverter to the outlet region.
Es wird ein Verfahren zum Ermitteln von Deskriptoren DI, welche mit Eigenschaften eines Partikelkollektivs korrelieren, beschrieben. Die Deskriptoren Di werden durch Auswerten von Messsignalen, welche mittels einer optischen Reflexions- oder Transmissionsmethode ermittelt wurden, bei der Licht in das Partikelkollektiv eingestrahlt und rückreflektiertes Licht mittels eines Fotodetektors detektiert wird, ermittelt. Das Verfahren weist die folgenden Schritte auf: a) Aufnehmen eines Intensitätssignals I(t) von dem Fotodetektor, wobei das Intensitätssignals I(t) eine zeitabhängige Intensität von durch den Fotodetektor detektiertem Licht angibt; b) Erstellen eines digitalisierten Intensitätssignals It durch Digitalisieren des aufgenommenen Intensitätssignals I(t) mit einer Samplingperiode &Dgr;t innerhalb eines Abtastfensters T vorbestimmter Zeitdauer; c) Erstellen eines Satzes von Koeffizientenwerten ai durch Umwandeln des digitalisierten Intensitätssignals It mithilfe einer mathematischen, vorzugsweise surjektiven Transformation; d) Ableiten der Deskriptoren DI aus den erstellten Koeffizientenwerten. Das Verfahren und eine zu dessen Ausführung vorgesehene Vorrichtung können deutlich einfacher implementiert werden als herkömmliche Verfahren, bei denen Partikelkollektive durch Erstellen einer Sehnenlängenverteilung (CLD) untersucht werden sollen. Die mittels des Verfahrens ermittelten Deskriptoren können bei einer Prozessanalyse verwendet werden, um beispielsweise einfach und schnell erkennen zu können, wenn sich ein Partikelkollektiv anomal verhält.