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Elektro-thermische Untersuchung des sicheren Arbeitsbereichs von SiC-MOSFETs

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Metadaten
Name:Unger, Christian; Pfost, Martin
Erschienen in:44. Kolloquium Halbleiter-Leistungsbauelemente und ihre systemtechnische Anwendung
Editor:Franz Josef Kamerewerd
Document Type:Conference Proceeding
Language:German
Year of Publication:2015
Pagenumber:17
First Page:1
Last Page:17
Dewey Decimal Classification:621 Angewandte Physik
Open Access:Nein